GC method for detemining trace SiHCl_3 in high purity SiCl_4 has been developed.
采用石英毛细管柱与氩检测器相联结的气相色谱方法定量检测高纯的光纤原料四氯化硅中微量三氯氢硅等含氢杂质。
Copyright © mingxiaow.com All Rights Reserved.版权所有
本网站内容仅供参考,请以各学校实际情况为主!
工信部备案号:浙ICP备20019715号